Цена: 800 ₽
Издательство: Издательство стандартов
Год издания: 1979
В книге рассматриваются основные аспекты надежности полупроводниковых интегральных схем (ИС) и процесс производства и эксплуатации ИС. Особое внимание уделяется методам прогнозирования и нормирования надежности ИС. Рассмотрены вопросы надежности при воздействии внешних факторов, а также методы контроля и оценки надежности ИС. Книга предназначена для инженеров, техников, работающих в области производства и эксплуатации ИС, а также для студентов соответствующих специальностей.
#Наука #электроника #Техника #Интегральные схемы #надежность