Библиофан

Тестовое диагностирование логических структур

Базовая цена: 1 000 ₽


Авторы: В. А. Пелипейко, И. А. Анучин, В. К. Жуковский, В. О. Плокс, Я. П. Круминь

Издательство: Зинатне

Год издания: 1986

Монография «Тестовое диагностирование логических структур» представляет собой глубокое исследование методов и средств тестирования и диагностирования интегральных логических структур. Книга охватывает широкий спектр вопросов, связанных с построением тестовых программ, хранением и вводом тестовой информации, аппаратурой для диагностики и оценкой эффективности тестовых систем. Особое внимание уделено микропроцессорным устройствам и цифровой технике. Издание будет полезно специалистам, инженерам и студентам, занимающимся разработкой, эксплуатацией и обслуживанием сложных электронных систем.

#СССР #Научная литература #электроника #техническая литература #микропроцессоры #цифровая техника #Тестовое диагностирование #Логические структуры

Характеристики книги

Редактор
В. А. Пелипейко
Страна
Латвия
Дефекты
Незначительные потертости по краям обложки и корешка, легкое пожелтение страниц от времени. В целом, состояние хорошее, следов интенсивного использования нет.
Язык
Русский
Тип обложки
Твердая обложка
Основной жанр
Нехудожественная литература
Общее количество страниц
262
Состояние
Хорошая
Иллюстрации
Черно-Белые
Жанр
Компьютерные технологии
Тираж
20000